![ParticleX-TC](https://www.electron-microscopes.com/wp-content/uploads/2023/06/ParticleX-TC.jpg)
Das Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM ist ein vielseitig einsetzbares Desktop-REM für die technische Sauberkeit auf der Mikroskala.
Das Phenom ParticleX Desktop SEM ist eine vielseitige Lösung für hochwertige Analysen im eigenen Haus. Es ermöglicht die schnelle Charakterisierung, Verifizierung und Klassifizierung von Materialien und unterstützt Ihre Produktion mit schnellen, genauen und zuverlässigen Daten. Das System ist einfach zu bedienen und schnell zu erlernen und macht die Partikel- und Materialanalyse für eine breitere Anwendergruppe zugänglich.
✓ Technische Sauberkeit
Angesichts der wachsenden Nachfrage nach Analysen kleinerer Partikel, die über die Möglichkeiten der Lichtmikroskopie hinausgehen, ermöglicht das Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEM die automatisierte Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS). Dies ist ein großer Vorteil gegenüber der Lichtmikroskopie, da es eine chemische Klassifizierung der Partikel ermöglicht und somit einen großen Einblick in Ihre Produktionsprozesse und/oder -umgebungen bietet. Standardberichte nach VDA 19 / ISO 16232 oder ISO 4406/4407 sind verfügbar.
✓ Sekundärelektronendetektor
Ein Sekundärelektronendetektor (SED) ist optional für das Phenom ParticleX TC (Technische Sauberkeit) Desktop SEM erhältlich. Der SED sammelt niederenergetische Elektronen von der obersten Oberflächenschicht der Probe. Es ist daher die perfekte Wahl, um detaillierte Informationen über die Probenoberfläche zu erhalten. Das SED ist von großem Nutzen für Anwendungen, bei denen Topografie und Morphologie wichtig sind. Dies ist häufig der Fall bei der Untersuchung von Mikrostrukturen, Fasern oder Partikeln.
✓ Allgemeine REM-Nutzung
Die Benutzeroberfläche basiert auf der bewährten, benutzerfreundlichen Technologie der erfolgreichen Phenom-Desktop-REM-Produkte. Sie ermöglicht es sowohl bestehenden als auch neuen Anwendern, sich schnell und ohne großen Schulungsaufwand mit dem System vertraut zu machen.
✓ Elementkartierung und Zeilenscan
Mit der Elementkartierung und der Zeilenscan-Funktionalität des Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEM kann der Anwender einfach per Mausklick arbeiten. Die Zeilenscan-Funktionalität zeigt die quantifizierte Elementverteilung in einem Liniendiagramm an.
Fragen Sie hier Ihre Produktdemo an
Möchten Sie mehr über das Phenom REM erfahren oder es live in Aktion sehen? Gerne arrangieren wir für Sie eine persönliche Vorführung. Oder nehmen Sie Kontakt mit uns auf, um für Ihre Anwendungen passende Lösungen zu besprechen, die das Desktop REM für Ihr Labor bieten kann.