La spectroscopie X à dispersion d’énergie (EDS ou EDX) fournit des informations sur la composition élémentaire en analysant les rayons X libérés par un échantillon lorsqu’il est frappé par le faisceau d’électrons. Il s’agit d’une méthode rapide, précise et non destructive pour identifier les composés à l’échelle du micron.
La technologie avancée de nos sources CeB6 et FEG permet d’obtenir des taux de comptage de rayons X élevés, ce qui réduit considérablement le temps nécessaire pour obtenir des résultats par rapport aux systèmes traditionnels basés sur le tungstène. Le détecteur à dérive en silicium (Silicon Drift Detector – SDD) entièrement intégré et doté d’une fenêtre ultra-mince permet de détecter les éléments B à Cf. Même sur de grandes surfaces, des données exploitables peuvent être collectées en moins de 60 secondes.
Le logiciel et le matériel d’analyse élémentaire sont entièrement intégrés dans les microscopes Phenom. L’interface utilisateur permet de passer en toute simplicité de la collecte d’images à l’acquisition EDS, sans changement de logiciel. L’algorithme d’identification automatique des pics, très perfectionné, garantit des informations élémentaires précises à tout utilisateur, quel que soit son niveau d’expérience. Les paramètres du détecteur sont automatiquement optimisés en fonction des conditions de faisceau utilisées, ce qui permet d’obtenir les meilleurs résultats à chaque analyse.
Résultats rapides
Les taux de comptage élevés des rayons X permettent d’obtenir des résultats rapidement, même sur de grandes surfaces.
Analyse en un clic
Un flux de travail entièrement intégré garantit la rapidité et la précision de la collecte et de l’interprétation des données.
Logiciel d’analyse élémentaire
Quel que soit le niveau d’expérience de l’utilisateur, le logiciel d’analyse élémentaire de Phenom fournit des résultats de haute qualité grâce à son interface intégrée et conviviale. Analysez rapidement les matériaux étrangers dans les échantillons, les inclusions, les revêtements multicouches, les interfaces multiphases, etc.
Quatre modes d’analyse puissants
✓ Spot – Identifie rapidement la composition élémentaire d’un spot spécifique
✓ Region – Détermine la composition élémentaire moyenne d’une zone plus large
✓ Line – Trace les changements dans les abondances élémentaires le long d’une ligne
✓ Map – Visualise tous les éléments présents dans un échantillon
