Le site internet electron-microscopes.com propose une gamme complète de MEB Phenom pour l’imagerie, la mesure et l’analyse. En effet, la gamme proposée s’étend des MEB conventionnels vers les MEB de table. De plus, les configurations proposées vont des systèmes les plus simples, adaptés à l’imagerie et l’analyse EDS jusqu’aux systèmes entièrement automatisés pour des analyses de routine.
Les fonctionnalités sont également améliorées grâce à un certain nombre de solutions logicielles pour le post-traitement des images. Comme par exemple, la taille des particules, la distribution des pores, le diamètre des fibres ou encore la mesure de rugosité. Des options matérielles supplémentaires pourront aussi être adaptées aux systèmes pour les besoins analytiques d’un laboratoire. Nous pouvons notamment citer les porte-échantillons fonctionnalisés, le détecteur STEM ou la platine Peltier pour le contrôle de la température de l’échantillon.
De plus, nous proposons des solutions de préparation d’échantillons MEB et MET telles que des métalliseurs ou encore des nettoyeurs à plasma.
Enfin, pour perfectionner cette gamme complète de MEB Phenom, n’oubliez pas de visiter notre rubrique accessoires. Vous y trouverez, entre autres, des porte-échantillons pour des applications spéciales. Mais aussi des fournitures innovantes, pratiques et utiles pour l’utilisation quotidienne de votre microscope électronique.
